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壓電傳感奈米行程-物鏡調焦器

在顯微鏡影像系統整合方案裡, 對於高精度 XY 位移, 或, Z-軸調焦, 在奈米級的尺度要求, 我們提供兩種 Piezo 奈米行程的解決方案 :

1. PIFOC Piezo-Z objective scanner, 物鏡 Z-軸對焦, 解析< 1 nm
2. Plnano Piezo XY-Z scanning stage, 載物台 XY 移動 與 Z-軸對焦, 解析 < 1 nm

適合所有廠牌顯微鏡, 可被 MetaMorph 軟體趨動使用.












 


應用領域

Super-resolution microscopy
Light disc microscopy
Confocal microscopy
3-D imaging
Screening
Interferometry
Measuring technology
Autofocus systems
Biotechnology
Semiconductor tests







 



 
PIEZO XY-Z scanning stage

XY-Z 行程 : 200 x 200 - 200 μm

步進精度 : < 1 nm

載物台負重 < 0.5 Kg

適合所有廠牌顯微鏡

應用領域
當顯微鏡不方便旋轉切換物鏡時, 可選配 Piezo XY-Z 高精度掃描載物台 (XY-移動掃描, 韓 Z-軸調焦)


Super-resolution microscopy
Screening
Confocal microscopy
Biotechnology
High reliability even in environments with high air humidity



影片 : 顯微鏡組和 Piezo XY-Z scanning stage