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LEICA Visoria P 研究級偏光顯微鏡

LEICA 定量偏光顯微鏡, 位居全世界的領導地位 !

如果您想要研究晶體結構,定量偏光顯微鏡 會是很好的選擇光檢工具。無論是礦物、塑膠和聚合物、藥物藥品或燃料和接合劑,LEICA Visoria P 偏光顯微鏡都能幫助您觀察到感興趣的內容,完成您的研究或品質控制任務。

Visoria P 可以升級為數位式顯微鏡, 直接成像顯示於平板電腦.

 






LEICA Visoria P 偏光顯微鏡助您獲得高品質結果

您需要一些元件來實現偏光研究目標。以下都是重要的組件:

無應力 ( strain-free ) 光學組件,因為您需要確保觀測到的雙折射( birefringence ) 來自樣品, 而非來自光學組件.

LED 照明至關重要,因為這種照明能夠均勻照亮樣品,並具有恒定的色溫

偏光鏡幫助您看到雙折射,360 度旋轉台幫助您對準樣品和光軸

您還需要用於對光軸進行錐光 ( conoscopy ) 觀察的Bertrand lens和用於測量任務的補償器


 





Conoscopy is used to investigate interference figures. Their shape and the modification achieved by compensators yields information about the optical properties of the investigated material. You can determine the number of optical axis, the angle(s) of optical axis and the optical character of the material.

Conoscopic image of Brookit, TiO2, with strong dispersion colors
Uni-axial interference figure of thick calcite plate, perpendicular to optical axis
Bi-axial interference figure of thin biotite crystal in diagonal position at circular polarized light. Position of optical axis can be clearly identified















Visoria P 具備 TL / IL 兩種 LED 光路照明., 按鍵快速切換.


進行反射率測量時必須使用 入射光 ( IL),例如觀察礦石或煤炭。
可進行雙折射測量時則需要使用 透射光 (TL),例如檢測地質薄片、聚合物薄膜或藥品。

在地質研究等特殊應用中,兩種光 ( TL / IL) 都不可缺少。

當顯微鏡配置為使用入射光和透射光兩種光時,相關物鏡 (帶或不帶蓋玻片校正功能) 應從 >10 倍的放大倍率開始使用。